एक संपर्क प्रतिरोध परीक्षक - जिसे आमतौर पर माइक्रो {{1}ओममीटर, कम {{2}प्रतिरोध ओहमीटर (एलआरओएम), या डक्टर टेस्टर - के रूप में भी जाना जाता है, एक सटीक विद्युत उपकरण है जिसे विशेष रूप से बहुत कम प्रतिरोध मानों को मापने के लिए डिज़ाइन किया गया है, आमतौर पर माइक्रो {{4}ओम (μΩ) से मिलि {5}ओम (एमΩ) की सीमा में। इसका उपयोग मुख्य रूप से विद्युत संपर्क जोड़ों, कनेक्टर समाप्ति, बस बार कनेक्शन, केबल जोड़ों, स्विचगियर संपर्कों और वेल्डेड या बोल्टेड करंट ले जाने वाले कनेक्शनों की गुणवत्ता और अखंडता का आकलन करने के लिए किया जाता है।
संपर्क प्रतिरोध माप का मूलभूत महत्व जूल के नियम (P=I²R) में निहित है। यहां तक कि एक बहुत छोटा प्रतिरोध मान - कम वर्तमान स्तर - पर महत्वहीन प्रतीत होता है, उच्च भार धाराओं को ले जाने पर पर्याप्त गर्मी ऊर्जा उत्पन्न कर सकता है। उदाहरण के लिए, केवल 100 μΩ का संपर्क प्रतिरोध 1,000 ए लोड करंट ले जाने से उस कनेक्शन बिंदु पर लगातार 100 वाट ताप ऊर्जा नष्ट हो जाएगी, जिससे इन्सुलेशन, कनेक्टर्स और आसपास के घटकों को प्रगतिशील थर्मल क्षति होगी।
संपर्क प्रतिरोध परीक्षक बिजली उपयोगिता रखरखाव, ट्रांसफार्मर निर्माण, सर्किट ब्रेकर परीक्षण, रेलवे बुनियादी ढांचे के रखरखाव, एयरोस्पेस गुणवत्ता नियंत्रण, और औद्योगिक स्विचगियर कमीशनिंग में अपरिहार्य उपकरण हैं - किसी भी अनुप्रयोग जहां वर्तमान ले जाने वाले जोड़ों के प्रतिरोध को एक निर्दिष्ट अधिकतम सीमा से नीचे सत्यापित किया जाना चाहिए।
संपर्क प्रतिरोध परीक्षक कार्य करते हैंकेल्विन फोर-तार (4-तार) माप सिद्धांत, जिसे केल्विन सेंसिंग विधि या चार-टर्मिनल माप के रूप में भी जाना जाता है। यह तकनीक सटीक निम्न प्रतिरोध माप के लिए आवश्यक है क्योंकि यह माप कनेक्शन के सीसा प्रतिरोध और संपर्क प्रतिरोध के प्रभाव को समाप्त कर देती है - त्रुटियां जो मापे जा रहे माइक्रो {{4}ओम मानों के सापेक्ष अस्वीकार्य रूप से बड़ी होंगी।
चार - तार विधि कैसे काम करती है:
वर्तमान लीड (C1, C2): एक सटीक रूप से नियंत्रित डीसी परीक्षण धारा (आमतौर पर उपकरण मॉडल के आधार पर 10 ए से 600 ए तक) को दो समर्पित धारा ले जाने वाले लीड का उपयोग करके परीक्षण के तहत घटक के माध्यम से इंजेक्ट किया जाता है।
वोल्टेज लीड्स (P1, P2): दो अलग-अलग, उच्च -प्रतिबाधा वोल्टेज सेंसिंग लीड सीधे परीक्षण के तहत घटक से जुड़े हुए हैं (वर्तमान लीड कनेक्शन बिंदुओं के अंदर)। इन लीडों में वस्तुतः कोई करंट नहीं होता।
गणना: उपकरण घटक (V) और परीक्षण धारा (I) में वोल्टेज ड्रॉप को एक साथ मापता है, फिर ओम के नियम का उपयोग करके प्रतिरोध की गणना करता है:R = V / I. चूँकि वोल्टेज लीड नगण्य धारा प्रवाहित करते हैं, इसलिए उनका प्रतिरोध माप परिणाम को प्रभावित नहीं करता है।
हाई टेस्ट करंट क्यों महत्वपूर्ण है?: ऑक्सीकृत या दूषित संपर्क सतहों पर सटीक संपर्क प्रतिरोध रीडिंग प्राप्त करने के लिए उच्च परीक्षण धारा (100 ए या ऊपर) का उपयोग करना महत्वपूर्ण है। कम परीक्षण धाराओं को पतली ऑक्साइड फिल्मों द्वारा मूर्ख बनाया जा सकता है, जिनमें स्वीकार्य प्रतिरोध प्रतीत होता है, लेकिन वास्तविक लोड वर्तमान स्थितियों के तहत टूट जाएगा।
